溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩(wěn)定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數(shù)量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數(shù)量4(可增加)
探針材質(zhì)紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質(zhì)及尺寸銀質(zhì),35*35mm(以實際尺寸為準)
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準)
實驗環(huán)境可抽真空,可充入保護氣氛(氮氣),配水冷接口
微型高低溫真空探針臺是一種用于材料研究和半導體器件測試的精密設(shè)備。它能夠在真空環(huán)境中提供高溫和低溫的測試條件,使研究人員能夠評估材料和器件在不同溫度下的性能。
主要特點包括:
1. **溫度范圍廣**:能夠?qū)崿F(xiàn)從低于室溫到高溫的調(diào)節(jié),通??梢栽?196°C到500°C的范圍內(nèi)工作。
2. **真空環(huán)境**:通過真空腔體,實現(xiàn)高真空條件,有助于消除氧化和污染,對材料性能影響的研究重要。
3. **高精度探針**:配備高精度的探針系統(tǒng),用于電學測量、材料表征等。
4. **微型設(shè)計**:相較于傳統(tǒng)探針臺,微型設(shè)計使得設(shè)備體積更小,更便于實驗室使用和搬運。
5. **多功能性**:可以配合多種測試設(shè)備使用,如示波器、頻譜分析儀等,適應(yīng)不同的實驗需求。
微型高低溫真空探針臺在材料科學、納米技術(shù)、電子學等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用,是研究新材料和器件性能的重要工具。
探針臺(Probe Station)是一種用于測試和分析微電子器件(如集成電路、傳感器等)的設(shè)備。其主要特點包括:
1. **高精度定位**:探針臺能夠定位待測樣品,通常配備精密機械手臂和高分辨率的光學顯微鏡。
2. **多樣化探針**:探針臺配備多種探針,可以用于不同類型的測試,如直流、交流或測試。
3. **溫控能力**:許多探針臺具備溫度控制功能,可以在極低或極高的溫度條件下進行測試,以模擬實際工作環(huán)境。
4. **可擴展性**:探針臺通??梢耘c其他測試設(shè)備(如示波器、信號發(fā)生器)進行連接,實現(xiàn)更復雜的測試方案。
5. **軟件控制**:現(xiàn)代探針臺配備了計算機控制系統(tǒng),可以通過軟件進行操作,實時收集和分析測試數(shù)據(jù)。
6. **兼容性**:探針臺可以處理多種尺寸和形狀的樣品,包括晶圓、芯片和其他微電子器件。
7. **環(huán)境監(jiān)控**:一些探針臺具有氣候控制系統(tǒng),可以在潔凈室或受控環(huán)境中進行測試,確保測試結(jié)果的可靠性。
這些特點使得探針臺在半導體開發(fā)、質(zhì)量控制和研究等領(lǐng)域中扮演著重要角色。

探針座位移平臺是一種用于電子測試和測量的設(shè)備,主要功能包括:
1. **定位**:能夠地移動探針到*的測試點,確保測量的準確性。
2. **多軸控制**:通常具有多個自由度(如X、Y、Z軸),可以在三維空間中靈活移動,以適應(yīng)不同尺寸和布局的測試樣品。
3. **自動化測試**:支持自動化操作,提高測試效率,減少人為誤差。
4. **掃描功能**:可以進行掃描操作,逐點測量,以獲取樣品的電性能數(shù)據(jù)。
5. **與測試儀器集成**:可與測試儀器(如示波器、LCR表等)連接,進行綜合測試與數(shù)據(jù)分析。
6. **數(shù)據(jù)記錄與分析**:記錄測試過程中的數(shù)據(jù),并可進行后續(xù)分析,以便于評估樣品性能。
7. **靈活適應(yīng)性**:可根據(jù)不同的測試需求和樣品特性,調(diào)整探針的位置和壓力,以確保接觸。
探針座位移平臺在半導體、微電子、材料科學等領(lǐng)域的測試和研究中具有重要的應(yīng)用價值。

探針臺卡盤(probe station chuck)是用于半導體測試和材料研究的重要設(shè)備,其特點包括:
1. **高精度**:探針臺卡盤通常具有高精度的定位能力,能夠確保探針與測試樣品之間的對接,從而提高測試的準確性。
2. **溫控能力**:許多探針臺卡盤配備有溫度控制系統(tǒng),可以在升溫或降溫的情況下進行測試,幫助研究人員觀察材料在不同溫度下的性能變化。
3. **真空功能**:某些探針臺卡盤具有真空夾緊功能,可以確保樣品在測試過程中固定穩(wěn)定,減少外部干擾。
4. **兼容性強**:探針臺卡盤通常設(shè)計為兼容多種類型的測試探針和測試儀器,方便用戶進行不同類型的實驗。
5. **靈活性**:探針臺卡盤可以適應(yīng)不同尺寸和形狀的樣品,提供多種夾持方式,以滿足不同測試需求。
6. **性能**:針對信號測試的需求,一些探針臺卡盤具備良好的性能,能夠有效降低信號衰減和反射。
7. **用戶友好的操作界面**:現(xiàn)代探針臺常配備直觀的控制系統(tǒng),便于用戶對設(shè)備進行調(diào)整和設(shè)置。
8. **耐用性**:探針臺卡盤通常采用量材料制造,以確保設(shè)備的耐久性和穩(wěn)定性,在復雜環(huán)境下也能長期使用。
綜合以上特點,探針臺卡盤在半導體測試、材料研究等領(lǐng)域中扮演著關(guān)鍵角色,極大地推動了相關(guān)技術(shù)的發(fā)展。

同軸真空饋通件是一種用于信號傳輸?shù)脑?,主要的功能包括?br/>1. **信號傳輸**:用于在真空環(huán)境中傳輸或微波信號,確保信號的有效傳遞。
2. **隔離真空和常規(guī)環(huán)境**:通過密封設(shè)計,能夠在真空環(huán)境下工作,避免外界環(huán)境對設(shè)備的影響,保護信號傳輸?shù)姆€(wěn)定性。
3. **低損耗**:設(shè)計優(yōu)化以減少信號在傳輸過程中的損耗,確保信號的質(zhì)量。
4. **相位穩(wěn)定性**:在不同溫度和真空條件下,保持信號的相位穩(wěn)定性。
5. **適應(yīng)性**:可以和不同類型的同軸電纜和連接器兼容,適應(yīng)多種不同的應(yīng)用場合。
6. **性能**:能在率下正常工作,通常用于、通訊、測試設(shè)備等設(shè)備中。
同軸真空饋通件廣泛應(yīng)用于科學實驗、微波技術(shù)、衛(wèi)星通訊、粒子加速器等領(lǐng)域,能夠滿足信號在特殊環(huán)境下的傳輸需求。
微型高低溫真空探針臺主要用于材料科學、半導體器件、納米技術(shù)等領(lǐng)域的研究和測試,其適用范圍包括但不限于以下幾個方面:
1. **半導體器件測試**:用于測量半導體材料和器件在高低溫環(huán)境下的電學性質(zhì)。
2. **材料分析**:能夠分析不同材料在極端溫度和真空條件下的性能變化,例如導電性、熱導性等。
3. **納米材料研究**:用于研究納米材料在不同溫度和環(huán)境下的行為,適合納米電子學研究。
4. **物理和化學實驗**:在物理和化學實驗中,對樣品進行高低溫和真空下的測試和觀察。
5. **生物材料測試**:能夠測試生物材料在極端環(huán)境下的穩(wěn)定性和性能變化。
6. **儀器研發(fā)**:在新型儀器和設(shè)備研發(fā)過程中,對材料的性能進行高低溫測試。
綜上所述,微型高低溫真空探針臺是一種多功能的實驗設(shè)備,適用于多種研究領(lǐng)域,特別是在要求控制溫度和氣氛條件的實驗中顯得尤為重要。
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