溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩(wěn)定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數(shù)量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數(shù)量4(可增加)
探針材質(zhì)紫銅鍍金
測(cè)試通道4
載樣臺(tái)材質(zhì)及尺寸銀質(zhì),35*35mm(以實(shí)際尺寸為準(zhǔn))
冷熱臺(tái)尺寸160*150*29mm(以實(shí)際尺寸為準(zhǔn))
實(shí)驗(yàn)環(huán)境可抽真空,可充入保護(hù)氣氛(氮?dú)猓?,配水冷接?/span>
探針夾具是一種于電子測(cè)試和測(cè)量的工具,主要用于固定和對(duì)準(zhǔn)探針,以便在電路板或其他電子元器件上進(jìn)行接觸測(cè)試。它們通常用于:
1. **自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)**:在自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)中,用于確保探針能夠準(zhǔn)確地接觸到被測(cè)設(shè)備的測(cè)試點(diǎn)。
2. **手動(dòng)測(cè)試**:一些探針夾具設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單,便于操作員手動(dòng)對(duì)準(zhǔn)和測(cè)試。
3. **實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用**:用于在研發(fā)和實(shí)驗(yàn)階段對(duì)電路進(jìn)行測(cè)試,以驗(yàn)證其性能和功能。
探針夾具的設(shè)計(jì)和功能多種多樣,可以根據(jù)不同的測(cè)試需求進(jìn)行調(diào)整。有的夾具具有高度可調(diào)、旋轉(zhuǎn)功能,以便在狹小空間或復(fù)雜結(jié)構(gòu)中使用。其材質(zhì)通常要求具備良好的導(dǎo)電性和耐磨損性能,以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。
光學(xué)探針臺(tái)是一種高精度的實(shí)驗(yàn)設(shè)備,主要用于表征材料的光學(xué)性能和研究微觀結(jié)構(gòu)。以下是光學(xué)探針臺(tái)的主要特點(diǎn):
1. **高精度定位**:光學(xué)探針臺(tái)通常具備高精度的運(yùn)動(dòng)系統(tǒng),能夠在微米或納米級(jí)別上進(jìn)行樣品定位,以確保實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
2. **多功能性**:很多光學(xué)探針臺(tái)可以支持多種測(cè)量方法,如反射、透射、熒光及拉曼光譜等,適用于不同的研究需求。
3. **環(huán)境控制**:有些光學(xué)探針臺(tái)配備有溫度、濕度、氣氛等環(huán)境控制系統(tǒng),能夠在特定條件下進(jìn)行實(shí)驗(yàn),適應(yīng)不同材料的測(cè)試要求。
4. **光學(xué)元件的集成**:探針臺(tái)通常集成有高性能的光學(xué)元件,如透鏡、濾光片和光源等,以提高光學(xué)測(cè)量的靈敏度和信噪比。
5. **圖像采集與分析**:許多光學(xué)探針臺(tái)具有圖像采集功能,可以實(shí)時(shí)觀察樣品表面、形貌及其他特征,并與測(cè)量數(shù)據(jù)結(jié)合進(jìn)行分析。
6. **模塊化設(shè)計(jì)**:一些探針臺(tái)是模塊化的,可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)需要進(jìn)行升級(jí)和擴(kuò)展,適應(yīng)不同的研究需求。
7. **用戶友好的操作界面**:現(xiàn)代的光學(xué)探針臺(tái)通常配備友好的軟件界面,使得用戶可以輕松設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù),進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和分析。
8. **適用性廣**:廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域,在基礎(chǔ)研究和工業(yè)應(yīng)用中都具有重要價(jià)值。
光學(xué)探針臺(tái)因其高度和多功能性,被廣泛用于科研與工業(yè)領(lǐng)域的光學(xué)測(cè)量與分析任務(wù)。

高低溫真空探針臺(tái)是一種用于材料和半導(dǎo)體器件測(cè)試的精密設(shè)備,其特點(diǎn)包括:
1. **溫度范圍廣**:能夠在極低溫(例如液氮溫度)到高溫(例如700℃以上)之間進(jìn)行測(cè)試,適用于不同材料和器件的特性分析。
2. **真空環(huán)境**:提供高真空或真空環(huán)境,減少氧化和污染,提高測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
3. **高精度探針**:配備高精度的探針,可以對(duì)微小區(qū)域進(jìn)行測(cè)量,適用于微電子器件和納米材料的測(cè)試。
4. **自動(dòng)化設(shè)置**:許多高低溫真空探針臺(tái)配備自動(dòng)化控制系統(tǒng),可以實(shí)現(xiàn)溫度和壓力的準(zhǔn)確控制,提高測(cè)試效率。
5. **多功能性**:支持多種測(cè)試方法,如電學(xué)測(cè)試、熱學(xué)測(cè)試、光學(xué)測(cè)試等,適用于不同類型的材料和器件。
6. **良好的熱管理**:采用的熱傳導(dǎo)和絕熱技術(shù),確保在高低溫環(huán)境中設(shè)備的穩(wěn)定性和測(cè)試的可靠性。
7. **數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)**:配備的數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng),能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控和記錄測(cè)試數(shù)據(jù),方便后續(xù)分析。
8. **模組化設(shè)計(jì)**:很多探針臺(tái)采用模組化設(shè)計(jì),用戶可以根據(jù)需要更換不同的探針或附件,提高設(shè)備的靈活性。
這些特點(diǎn)使得高低溫真空探針臺(tái)在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研發(fā)及微電子器件測(cè)試等領(lǐng)域中被廣泛應(yīng)用。

微型高低溫真空探針臺(tái)是一種用于電子材料和器件測(cè)試的精密儀器,具備以下幾個(gè)主要特點(diǎn):
1. **高低溫測(cè)試能力**:能夠在極低溫(如液氮溫度)到高溫(如400°C以上)范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)試,適用于不同溫度環(huán)境下的材料性能研究。
2. **真空環(huán)境**:探針臺(tái)設(shè)計(jì)用于在高真空條件下操作,減少氧化和污染,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
3. **高精度探測(cè)**:配備高精度的探針和測(cè)量系統(tǒng),能夠準(zhǔn)確獲取微小電流、電壓等信號(hào),適用于微小尺度器件的電測(cè)量。
4. **微型化設(shè)計(jì)**:體積小巧,便于在有限空間內(nèi)進(jìn)行操作,適合于微電子器件、納米材料等研究。
5. **靈活的樣品裝配**:通常具有友好的樣品夾具設(shè)計(jì),便于不同類型和尺寸的樣品裝配和更換。
6. **多功能性**:可能支持多種測(cè)試模式,如直流測(cè)試、交流測(cè)試、霍爾效應(yīng)測(cè)試等,適用范圍廣。
7. **易于連接**:可與其他測(cè)試設(shè)備(如示波器、信號(hào)發(fā)生器等)快速連接,便于進(jìn)行綜合測(cè)試。
總之,微型高低溫真空探針臺(tái)在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研究和納米技術(shù)等領(lǐng)域中具有重要的應(yīng)用價(jià)值。

探針臺(tái)卡盤(probe station chuck)是用于半導(dǎo)體測(cè)試和材料研究的重要設(shè)備,其特點(diǎn)包括:
1. **高精度**:探針臺(tái)卡盤通常具有高精度的定位能力,能夠確保探針與測(cè)試樣品之間的對(duì)接,從而提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。
2. **溫控能力**:許多探針臺(tái)卡盤配備有溫度控制系統(tǒng),可以在升溫或降溫的情況下進(jìn)行測(cè)試,幫助研究人員觀察材料在不同溫度下的性能變化。
3. **真空功能**:某些探針臺(tái)卡盤具有真空夾緊功能,可以確保樣品在測(cè)試過程中固定穩(wěn)定,減少外部干擾。
4. **兼容性強(qiáng)**:探針臺(tái)卡盤通常設(shè)計(jì)為兼容多種類型的測(cè)試探針和測(cè)試儀器,方便用戶進(jìn)行不同類型的實(shí)驗(yàn)。
5. **靈活性**:探針臺(tái)卡盤可以適應(yīng)不同尺寸和形狀的樣品,提供多種夾持方式,以滿足不同測(cè)試需求。
6. **性能**:針對(duì)信號(hào)測(cè)試的需求,一些探針臺(tái)卡盤具備良好的性能,能夠有效降低信號(hào)衰減和反射。
7. **用戶友好的操作界面**:現(xiàn)代探針臺(tái)常配備直觀的控制系統(tǒng),便于用戶對(duì)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整和設(shè)置。
8. **耐用性**:探針臺(tái)卡盤通常采用量材料制造,以確保設(shè)備的耐久性和穩(wěn)定性,在復(fù)雜環(huán)境下也能長(zhǎng)期使用。
綜合以上特點(diǎn),探針臺(tái)卡盤在半導(dǎo)體測(cè)試、材料研究等領(lǐng)域中扮演著關(guān)鍵角色,極大地推動(dòng)了相關(guān)技術(shù)的發(fā)展。
微型高低溫真空探針臺(tái)主要用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體器件、納米技術(shù)等領(lǐng)域的研究和測(cè)試,其適用范圍包括但不限于以下幾個(gè)方面:
1. **半導(dǎo)體器件測(cè)試**:用于測(cè)量半導(dǎo)體材料和器件在高低溫環(huán)境下的電學(xué)性質(zhì)。
2. **材料分析**:能夠分析不同材料在極端溫度和真空條件下的性能變化,例如導(dǎo)電性、熱導(dǎo)性等。
3. **納米材料研究**:用于研究納米材料在不同溫度和環(huán)境下的行為,適合納米電子學(xué)研究。
4. **物理和化學(xué)實(shí)驗(yàn)**:在物理和化學(xué)實(shí)驗(yàn)中,對(duì)樣品進(jìn)行高低溫和真空下的測(cè)試和觀察。
5. **生物材料測(cè)試**:能夠測(cè)試生物材料在極端環(huán)境下的穩(wěn)定性和性能變化。
6. **儀器研發(fā)**:在新型儀器和設(shè)備研發(fā)過程中,對(duì)材料的性能進(jìn)行高低溫測(cè)試。
綜上所述,微型高低溫真空探針臺(tái)是一種多功能的實(shí)驗(yàn)設(shè)備,適用于多種研究領(lǐng)域,特別是在要求控制溫度和氣氛條件的實(shí)驗(yàn)中顯得尤為重要。
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