溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩(wěn)定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數(shù)量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數(shù)量4(可增加)
探針材質(zhì)紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質(zhì)及尺寸銀質(zhì),35*35mm(以實際尺寸為準(zhǔn))
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準(zhǔn))
實驗環(huán)境可抽真空,可充入保護(hù)氣氛(氮?dú)猓?,配水冷接?/span>
光學(xué)探針臺是一種用于光學(xué)實驗和測量的設(shè)備,主要用于在微觀尺度上對樣品進(jìn)行詳細(xì)觀察和操作。它通常包括一個精密的樣品臺,可以在多個維度上移動,以便對樣品進(jìn)行的定位和分析。光學(xué)探針臺廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體研究、生物醫(yī)學(xué)成像等領(lǐng)域。
光學(xué)探針臺的主要特點(diǎn)包括:
1. **高精度定位**:能夠微米級或納米級控制樣品的位置。
2. **多功能探針**:可以搭載光學(xué)探針,如激光束、顯微鏡等進(jìn)行多種測量。
3. **樣品支撐**:設(shè)計合理,可以支持不同形狀和大小的樣品。
4. **多維度移動**:通常具備XYZ軸的移動功能,以便觀察樣品。
5. **實時成像**:配合高分辨率相機(jī)或者顯微鏡,可以實時觀察樣品變化。
光學(xué)探針臺在研究、開發(fā)和質(zhì)量控制等多個環(huán)節(jié)發(fā)揮著重要作用。它不僅可以用于基礎(chǔ)研究,還可以支持工業(yè)應(yīng)用中的測試和檢驗。
真空探針臺是一種用于微電子和材料科學(xué)領(lǐng)域的高精度測試設(shè)備,主要用于對半導(dǎo)體wafer、材料樣品的電氣特性進(jìn)行測量。其特點(diǎn)主要包括:
1. **高真空環(huán)境**:真空探針臺能夠在高真空條件下工作,減少氣體分子對測試過程的干擾,提高測量的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
2. **高精度定位**:該設(shè)備通常配備高精度的定位系統(tǒng),可以對準(zhǔn)探針與樣品的接觸點(diǎn),確保測量的準(zhǔn)確性。
3. **多樣化探針選擇**:真空探針臺支持多種類型的探針,可根據(jù)不同的實驗需求進(jìn)行更換,適應(yīng)不同的測試任務(wù)。
4. **溫度控制功能**:許多真空探針臺配備了溫度控制系統(tǒng),能夠在特定溫度下進(jìn)行測量,對于研究材料的溫度依賴特性尤為重要。
5. **高靈敏度測量**:在真空條件下,探針臺能夠進(jìn)行更高靈敏度的電氣測量,適合于低信號的測量任務(wù)。
6. **兼容性強(qiáng)**:真空探針臺通??梢耘c多種測試設(shè)備協(xié)同使用,如網(wǎng)絡(luò)分析儀、示波器等,滿足多種測試需求。
7. **自動化程度**:現(xiàn)代真空探針臺往往具備自動化控制系統(tǒng),能夠?qū)崿F(xiàn)自動對焦、掃描和數(shù)據(jù)采集,提高實驗效率。
8. **適用范圍廣泛**:真空探針臺不僅可用于半導(dǎo)體行業(yè),還可廣泛應(yīng)用于材料測試、納米技術(shù)、生物傳感器等多個領(lǐng)域。
總體而言,真空探針臺是進(jìn)行精細(xì)化電氣測試的重要工具,其特性使其在科研和工業(yè)應(yīng)用中具有的地位。

探針臺卡盤(Probing Station Chuck)在半導(dǎo)體測試和研究中具有重要功能。它的主要功能包括:
1. **樣品固定**:探針臺卡盤能夠穩(wěn)固地固定待測試的半導(dǎo)體芯片或其他樣本,確保在測試過程中樣品不發(fā)生移動。
2. **定位**:通過高精度的微調(diào)機(jī)制,卡盤可以實現(xiàn)樣品的定位,以便于探針與樣品上的特定點(diǎn)進(jìn)行接觸。
3. **溫度控制**:一些的探針臺卡盤配備了溫度控制功能,可以在不同的溫度條件下進(jìn)行測試,以研究溫度對電性能的影響。
4. **電氣連接**:卡盤通常與探針陣列一起工作,通過探針與樣品接觸,實現(xiàn)電氣信號的傳輸,允許測試電性能參數(shù)。
5. **兼容性**:探針臺卡盤設(shè)計通常具有良好的兼容性,可以與不同類型和尺寸的樣本以及探針頭配合使用。
6. **環(huán)境控制**:一些探針臺卡盤具備氣氛控制功能,可以在特定氣氛(如氮?dú)饣蛘婵窄h(huán)境)中進(jìn)行測試,以降低氧化和其他環(huán)境影響。
總的來說,探針臺卡盤在半導(dǎo)體研發(fā)和制造過程中扮演著至關(guān)重要的角色,它不僅提高了測試的性,還為研究提供了的實驗條件。

同軸真空饋通件是一種用于電子設(shè)備的連接器,主要用于在真空環(huán)境中傳輸信號。其特點(diǎn)包括:
1. **優(yōu)良的信號傳輸性能**:同軸結(jié)構(gòu)能夠有效地減少信號的損耗和反射,保證信號的質(zhì)量。
2. **良好的屏蔽性能**:同軸設(shè)計可提供較好的電磁干擾屏蔽,防止外部干擾信號影響傳輸質(zhì)量。
3. **耐高真空特性**:專門設(shè)計用于在真空環(huán)境中工作,不易受到氣體和水分的影響,適用于真空設(shè)備,如粒子加速器和真空腔等。
4. **高功率承受能力**:能夠承受較高的功率水平,適合用于高功率射頻應(yīng)用。
5. **機(jī)械穩(wěn)定性**:結(jié)構(gòu)堅固,能夠經(jīng)受一定的機(jī)械應(yīng)力和溫度變化。
6. **便于安裝和維護(hù)**:設(shè)計通??紤]到易于安裝和維護(hù),便于與其他設(shè)備連接。
7. **多種接口類型**:可根據(jù)需要提供不同類型的連接器接口,以適應(yīng)應(yīng)用場景。
以上這些特點(diǎn)使得同軸真空饋通件在通信、射頻設(shè)備及實驗物理等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。

探針臺(Probe Station)是一種用于半導(dǎo)體和微電子測試的設(shè)備,主要用于在實驗室環(huán)境中對芯片或材料進(jìn)行電學(xué)性能測試。它的主要功能包括:
1. **電氣測試**:探針臺配備有探針,可以直接接觸到芯片上的電氣接點(diǎn),進(jìn)行電性能測試,比如電流、電壓、阻抗等。
2. **溫度控制**:許多探針臺具有溫度控制功能,可以在高溫或低溫下進(jìn)行測試,以評估材料或器件在不同溫度下的特性。
3. **真空環(huán)境**:某些探針臺可以在真空環(huán)境下操作,以減少空氣對測試結(jié)果的影響,尤其是在某些敏感實驗中。
4. **圖像捕捉與分析**:探針臺通常配備有顯微鏡,可以對芯片進(jìn)行觀察,幫助技術(shù)人員準(zhǔn)確定位探針和分析測試結(jié)果。
5. **自動化測試**:一些探針臺能夠與計算機(jī)系統(tǒng)配合,實現(xiàn)自動化操作和數(shù)據(jù)采集,提高測試效率和準(zhǔn)確性。
6. **多功能擴(kuò)展**:探針臺可以與其他設(shè)備(如信號發(fā)生器、示波器等)聯(lián)動,進(jìn)行更復(fù)雜的電氣測試和分析。
探針臺廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、電子工程等領(lǐng)域,是研究和開發(fā)新型電子元件的重要工具。
微型高低溫真空探針臺主要用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體器件、納米技術(shù)等領(lǐng)域的研究和測試,其適用范圍包括但不限于以下幾個方面:
1. **半導(dǎo)體器件測試**:用于測量半導(dǎo)體材料和器件在高低溫環(huán)境下的電學(xué)性質(zhì)。
2. **材料分析**:能夠分析不同材料在極端溫度和真空條件下的性能變化,例如導(dǎo)電性、熱導(dǎo)性等。
3. **納米材料研究**:用于研究納米材料在不同溫度和環(huán)境下的行為,適合納米電子學(xué)研究。
4. **物理和化學(xué)實驗**:在物理和化學(xué)實驗中,對樣品進(jìn)行高低溫和真空下的測試和觀察。
5. **生物材料測試**:能夠測試生物材料在極端環(huán)境下的穩(wěn)定性和性能變化。
6. **儀器研發(fā)**:在新型儀器和設(shè)備研發(fā)過程中,對材料的性能進(jìn)行高低溫測試。
綜上所述,微型高低溫真空探針臺是一種多功能的實驗設(shè)備,適用于多種研究領(lǐng)域,特別是在要求控制溫度和氣氛條件的實驗中顯得尤為重要。
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