溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩(wěn)定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數(shù)量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數(shù)量4(可增加)
探針材質(zhì)紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質(zhì)及尺寸銀質(zhì),35*35mm(以實際尺寸為準)
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準)
實驗環(huán)境可抽真空,可充入保護氣氛(氮氣),配水冷接口
探針夾具是一種于電子測試和測量的工具,主要用于固定和對準探針,以便在電路板或其他電子元器件上進行接觸測試。它們通常用于:
1. **自動化測試系統(tǒng)**:在自動測試設(shè)備(ATE)中,用于確保探針能夠準確地接觸到被測設(shè)備的測試點。
2. **手動測試**:一些探針夾具設(shè)計簡單,便于操作員手動對準和測試。
3. **實驗室應(yīng)用**:用于在研發(fā)和實驗階段對電路進行測試,以驗證其性能和功能。
探針夾具的設(shè)計和功能多種多樣,可以根據(jù)不同的測試需求進行調(diào)整。有的夾具具有高度可調(diào)、旋轉(zhuǎn)功能,以便在狹小空間或復(fù)雜結(jié)構(gòu)中使用。其材質(zhì)通常要求具備良好的導電性和耐磨損性能,以確保測試的準確性和可靠性。
探針夾具是一種用于電子測量和測試的工具,廣泛應(yīng)用于半導體行業(yè)、電子元件測試和電路板維修等領(lǐng)域。它的主要特點包括:
1. **性**:探針夾具能夠以極高的精度對接觸點施加壓力,以確保可靠的電氣接觸,從而提高測試數(shù)據(jù)的準確性。
2. **多功能性**:不同類型的探針夾具可以適配測試需求,包括不同類型的探針和接觸方式,滿足不同的測試標準。
3. **可靠性**:的設(shè)計和材料選擇使得探針夾具在多次使用中保持穩(wěn)定的性能,降低故障率,提高測試的可靠性。
4. **靈活性**:探針夾具通常具有可調(diào)節(jié)的結(jié)構(gòu),可以適應(yīng)不同尺寸和形狀的被測物體,增強了使用的靈活性。
5. **易于操作**:設(shè)計時考慮到人機工程學,使得操作者能夠方便地進行裝配、調(diào)節(jié)和操作,減少了使用時的復(fù)雜性。
6. **兼容性**:探針夾具可以與多種測試設(shè)備(如示波器、萬用表等)兼容使用,提升測試系統(tǒng)的集成度。
7. **耐用性**:量的材料和精密的制造工藝確保了探針夾具的耐用性,在率使用的環(huán)境下仍能保持良好的性能。
8. **熱穩(wěn)定性**:一些探針夾具設(shè)計考慮到了熱膨脹的影響,保證在溫度變化下仍能提供穩(wěn)定的測試性能。
總之,探針夾具在電子測試和測量中扮演著重要角色,通過其優(yōu)良的設(shè)計和性能特征,能夠顯著提高測試效率和可靠性。

高低溫真空探針臺是一種用于材料和半導體器件測試的設(shè)備,能夠在極端溫度和真空環(huán)境下進行電氣特性測量。其主要功能包括:
1. **溫度控制**:能夠在廣泛的溫度范圍內(nèi)(通常從低于零度到幾百度攝氏)控制樣品的溫度,便于研究材料在不同溫度下的性能變化。
2. **真空環(huán)境**:提供低壓真空環(huán)境,以減少氣體分子對測量結(jié)果的影響,尤其是在材料表面或界面反應(yīng)的研究中。
3. **電氣測試**:可以連接測試儀器(如示波器、源測量單元等)進行電流、電壓等電學特性的測量。
4. **多種探針配置**:可以靈活配置探針的數(shù)量和類型,以適應(yīng)不同的實驗需求,如單點探測或多點測量。
5. **樣品放置**:支持多種類型的樣品放置方式,如晶圓、薄膜、納米結(jié)構(gòu)等,以開展多樣化的實驗。
6. **數(shù)據(jù)采集與分析**:配合相關(guān)軟件,可以進行實時數(shù)據(jù)采集和后續(xù)分析,幫助科研人員深入理解材料性能。
高低溫真空探針臺廣泛應(yīng)用于半導體、物理、材料科學等領(lǐng)域的研究和開發(fā)中,尤其是在新材料的開發(fā)和半導體器件的性能測試方面具有重要意義。

光學探針臺是一種用于微觀尺度上測量和分析樣品的儀器,主要應(yīng)用于材料科學、半導體研究、納米技術(shù)和生物醫(yī)學等領(lǐng)域。其主要功能包括:
1. **高精度定位**:光學探針臺配備高精度的運動系統(tǒng),可以將探針或光學裝置在樣品表面上進行微米級甚至納米級的定位,以實現(xiàn)準確的測量和操作。
2. **光學成像**:利用高分辨率的成像系統(tǒng),可以對樣品進行實時觀察,提供樣品表面的詳細信息,幫助研究人員分析結(jié)構(gòu)和特性。
3. **探針測量**:光學探針臺通常配有不同類型的探針,可以進行電學、熱學、力學等性質(zhì)的測量,例如掃描探針顯微鏡(SPM)和原子力顯微鏡(AFM)等。
4. **環(huán)境控制**:許多光學探針臺可以在控制的環(huán)境條件下進行實驗(如溫度、濕度、氣氛等),以觀察樣品在不同條件下的表現(xiàn)。
5. **數(shù)據(jù)采集和分析**:通過集成的軟件系統(tǒng),光學探針臺可以實時采集數(shù)據(jù)并進行分析,為研究人員提供有價值的信息。
6. **樣品操作**:某些光學探針臺還具備對樣品進行處理和操作的能力,如刻蝕、沉積等,為材料制備提供。
7. **多功能集成**:現(xiàn)代光學探針臺還可以與其他技術(shù)結(jié)合,如激光光譜、電子顯微鏡等,以實現(xiàn)更全面的分析與表征。
光學探針臺因其和多功能性,成為研究和開發(fā)中的重要工具。

探針臺(Probe Station)是一種用于半導體和微電子測試的設(shè)備,主要用于在實驗室環(huán)境中對芯片或材料進行電學性能測試。它的主要功能包括:
1. **電氣測試**:探針臺配備有探針,可以直接接觸到芯片上的電氣接點,進行電性能測試,比如電流、電壓、阻抗等。
2. **溫度控制**:許多探針臺具有溫度控制功能,可以在高溫或低溫下進行測試,以評估材料或器件在不同溫度下的特性。
3. **真空環(huán)境**:某些探針臺可以在真空環(huán)境下操作,以減少空氣對測試結(jié)果的影響,尤其是在某些敏感實驗中。
4. **圖像捕捉與分析**:探針臺通常配備有顯微鏡,可以對芯片進行觀察,幫助技術(shù)人員準確定位探針和分析測試結(jié)果。
5. **自動化測試**:一些探針臺能夠與計算機系統(tǒng)配合,實現(xiàn)自動化操作和數(shù)據(jù)采集,提高測試效率和準確性。
6. **多功能擴展**:探針臺可以與其他設(shè)備(如信號發(fā)生器、示波器等)聯(lián)動,進行更復(fù)雜的電氣測試和分析。
探針臺廣泛應(yīng)用于半導體制造、材料科學、電子工程等領(lǐng)域,是研究和開發(fā)新型電子元件的重要工具。
同軸真空饋通件廣泛應(yīng)用于許多領(lǐng)域,主要包括:
1. **微波通信**:在衛(wèi)星通信、無線傳輸?shù)阮I(lǐng)域中,用于傳輸信號。
2. **射頻功率放大**:在射頻(RF)放大器中,幫助傳輸和采集高功率信號。
3. **天線系統(tǒng)**:在天線和發(fā)射器中,用于信號傳輸。
4. **高能物理實驗**:在粒子加速器等實驗設(shè)備中,用于傳輸信號。
5. **實驗室設(shè)備**:在實驗室中用于設(shè)備的連接和信號傳輸。
6. **系統(tǒng)**:用于和民用系統(tǒng)中進行信號傳遞。
7. **設(shè)備**:在某些醫(yī)學成像和設(shè)備中也會用到。
同軸真空饋通件的設(shè)計需要考慮頻率范圍、功率處理能力、插入損耗以及物理尺寸等因素,以確保其在特定應(yīng)用中的性能和可靠性。
http://m.wenhaozhong.com