溫度范圍零下180~550℃
變溫速度0~10℃/min,升降溫線性可控
溫度分辨率及穩(wěn)定性± 0.1℃
控溫方式PID
溫度傳感器PT100
溫度傳感器數(shù)量2
致冷方式液氮(泵控制)
探針數(shù)量4(可增加)
探針材質(zhì)紫銅鍍金
測試通道4
載樣臺材質(zhì)及尺寸銀質(zhì),35*35mm(以實際尺寸為準(zhǔn))
冷熱臺尺寸160*150*29mm(以實際尺寸為準(zhǔn))
實驗環(huán)境可抽真空,可充入保護(hù)氣氛(氮氣),配水冷接口
真空探針臺(Vacuum Probe Station)是一種用于半導(dǎo)體材料和器件測試的實驗設(shè)備。它在高真空環(huán)境下操作,可以有效降低外部污染和氧化,確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。真空探針臺通常配備有多組針頭探針,用于電氣測試、信號傳輸和表面分析等。
真空探針臺的主要應(yīng)用包括:
1. **半導(dǎo)體器件測試**:用于測試晶體管、二極管、集成電路等器件的電性能。
2. **材料研究**:可用于研究新型半導(dǎo)體材料、納米材料等的特性。
3. **微納米技術(shù)**:在微米和納米尺度上進(jìn)行電學(xué)、光學(xué)等性能測試。
4. **失效率分析**:通過在真空環(huán)境中測試,分析器件的失效率和可靠性。
真空探針臺的工作原理是將樣品放置在真空環(huán)境中,通過探針直接接觸樣品的電極進(jìn)行測量。通常配備有精密的定位系統(tǒng),以保證探針與樣品的準(zhǔn)確接觸。
在使用真空探針臺時,操作人員需要對設(shè)備進(jìn)行良好的維護(hù)和校準(zhǔn),以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
探針臺(Probe Station)是一種用于半導(dǎo)體和微電子測試的設(shè)備,主要用于在實驗室環(huán)境中對芯片或材料進(jìn)行電學(xué)性能測試。它的主要功能包括:
1. **電氣測試**:探針臺配備有探針,可以直接接觸到芯片上的電氣接點,進(jìn)行電性能測試,比如電流、電壓、阻抗等。
2. **溫度控制**:許多探針臺具有溫度控制功能,可以在高溫或低溫下進(jìn)行測試,以評估材料或器件在不同溫度下的特性。
3. **真空環(huán)境**:某些探針臺可以在真空環(huán)境下操作,以減少空氣對測試結(jié)果的影響,尤其是在某些敏感實驗中。
4. **圖像捕捉與分析**:探針臺通常配備有顯微鏡,可以對芯片進(jìn)行觀察,幫助技術(shù)人員準(zhǔn)確定位探針和分析測試結(jié)果。
5. **自動化測試**:一些探針臺能夠與計算機系統(tǒng)配合,實現(xiàn)自動化操作和數(shù)據(jù)采集,提高測試效率和準(zhǔn)確性。
6. **多功能擴展**:探針臺可以與其他設(shè)備(如信號發(fā)生器、示波器等)聯(lián)動,進(jìn)行更復(fù)雜的電氣測試和分析。
探針臺廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、電子工程等領(lǐng)域,是研究和開發(fā)新型電子元件的重要工具。

探針臺(Probe Station)是一種用于測試和分析微電子器件(如集成電路、傳感器等)的設(shè)備。其主要特點包括:
1. **高精度定位**:探針臺能夠定位待測樣品,通常配備精密機械手臂和高分辨率的光學(xué)顯微鏡。
2. **多樣化探針**:探針臺配備多種探針,可以用于不同類型的測試,如直流、交流或測試。
3. **溫控能力**:許多探針臺具備溫度控制功能,可以在極低或極高的溫度條件下進(jìn)行測試,以模擬實際工作環(huán)境。
4. **可擴展性**:探針臺通??梢耘c其他測試設(shè)備(如示波器、信號發(fā)生器)進(jìn)行連接,實現(xiàn)更復(fù)雜的測試方案。
5. **軟件控制**:現(xiàn)代探針臺配備了計算機控制系統(tǒng),可以通過軟件進(jìn)行操作,實時收集和分析測試數(shù)據(jù)。
6. **兼容性**:探針臺可以處理多種尺寸和形狀的樣品,包括晶圓、芯片和其他微電子器件。
7. **環(huán)境監(jiān)控**:一些探針臺具有氣候控制系統(tǒng),可以在潔凈室或受控環(huán)境中進(jìn)行測試,確保測試結(jié)果的可靠性。
這些特點使得探針臺在半導(dǎo)體開發(fā)、質(zhì)量控制和研究等領(lǐng)域中扮演著重要角色。

光學(xué)探針臺是一種用于微觀尺度上測量和分析樣品的儀器,主要應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體研究、納米技術(shù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。其主要功能包括:
1. **高精度定位**:光學(xué)探針臺配備高精度的運動系統(tǒng),可以將探針或光學(xué)裝置在樣品表面上進(jìn)行微米級甚至納米級的定位,以實現(xiàn)準(zhǔn)確的測量和操作。
2. **光學(xué)成像**:利用高分辨率的成像系統(tǒng),可以對樣品進(jìn)行實時觀察,提供樣品表面的詳細(xì)信息,幫助研究人員分析結(jié)構(gòu)和特性。
3. **探針測量**:光學(xué)探針臺通常配有不同類型的探針,可以進(jìn)行電學(xué)、熱學(xué)、力學(xué)等性質(zhì)的測量,例如掃描探針顯微鏡(SPM)和原子力顯微鏡(AFM)等。
4. **環(huán)境控制**:許多光學(xué)探針臺可以在控制的環(huán)境條件下進(jìn)行實驗(如溫度、濕度、氣氛等),以觀察樣品在不同條件下的表現(xiàn)。
5. **數(shù)據(jù)采集和分析**:通過集成的軟件系統(tǒng),光學(xué)探針臺可以實時采集數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析,為研究人員提供有價值的信息。
6. **樣品操作**:某些光學(xué)探針臺還具備對樣品進(jìn)行處理和操作的能力,如刻蝕、沉積等,為材料制備提供。
7. **多功能集成**:現(xiàn)代光學(xué)探針臺還可以與其他技術(shù)結(jié)合,如激光光譜、電子顯微鏡等,以實現(xiàn)更全面的分析與表征。
光學(xué)探針臺因其和多功能性,成為研究和開發(fā)中的重要工具。

探針座位移平臺是一種用于精密測試和測量的設(shè)備,常用于半導(dǎo)體、光電子和精密制造等領(lǐng)域。其主要特點包括:
1. **高精度**:探針座位移平臺能夠在微米甚至納米級別進(jìn)行高精度的位置控制,以確保測量的準(zhǔn)確性。
2. **多軸運動**:許多探針座位移平臺設(shè)計為多軸系統(tǒng),能夠?qū)崿F(xiàn)X、Y、Z三個維度的立移動,以適應(yīng)復(fù)雜的測量需求。
3. **穩(wěn)定性**:平臺結(jié)構(gòu)通常經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計,以提供高度的機械穩(wěn)定性,減少外部震動對測量結(jié)果的影響。
4. **自動化控制**:現(xiàn)代探針座位移平臺通常配備計算機控制系統(tǒng),支持自動化操作和數(shù)據(jù)采集,提高工作效率。
5. **兼容性強**:探針座可以與多種探針、傳感器和測量設(shè)備相結(jié)合,提供靈活的應(yīng)用方案。
6. **快速響應(yīng)**:的驅(qū)動系統(tǒng)使得平臺能夠快速響應(yīng)控制指令,實現(xiàn)快速定位和測量。
7. **易于操作**:許多平臺設(shè)有用戶友好的界面,使操作人員能夠輕松進(jìn)行設(shè)置和調(diào)整。
8. **可調(diào)節(jié)性**:探針座位移平臺通常允許用戶根據(jù)特定需求來調(diào)整工作參數(shù),例如探針的接觸力、移動速度等。
這些特點使得探針座位移平臺在電子元器件測試、材料分析和微型裝配等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
探針夾具主要用于電子元件測試和測量,其適用范圍包括:
1. **半導(dǎo)體測試**:用于芯片、集成電路(IC)等電子元器件的電氣特性測試。
2. **電路板測試**:適用于PCB(印刷電路板)的測試,能夠幫助檢測PCB上的連接和功能。
3. **研發(fā)和實驗**:在電子產(chǎn)品的研發(fā)階段,探針夾具可以用于快速原型測試和實驗驗證。
4. **質(zhì)量控制**:在生產(chǎn)過程中,探針夾具可用于自動化測試以確保產(chǎn)品質(zhì)量。
5. **維修與故障排查**:在維修過程中,探針夾具可以用來快速測試疑似故障的元器件。
探針夾具的靈活性和性使其成為電子行業(yè)廣泛使用的重要工具。
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